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Soutenance de thèse: Recherche opérationnelle et optimisation pour la conception testable de circuits intégrés complexes

Publié le 8 septembre 2010
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24 septembre 2010
13h30
Grenoble INP
Amphi Gosse - Bat C

Soutenance de Lilia Zaourar, doctorante au laboratoire G-SCOP

Le travail de cette thèse est à l'interface des domaines de la recherche opérationnelle et de la micro-électronique.
Il traite de l'utilisation des techniques d'optimisation combinatoire pour la DFT (Design For Test) des Circuits Intégrés (CI).
Avec la croissance rapide et la complexité des CI actuels, la qualité ainsi que le coût du test sont devenus des paramètres importants dans l'industrie des  semi-conducteurs. Afin de s'assurer du bon fonctionnement du CI, l'étape de test est plus que jamais une étape essentielle et délicate dans le processus de fabrication d'un CI. Pour répondre aux exigences du marché, le test doit être rapide et efficace dans la révélation d'éventuels défauts. Pour cela, il devient incontournable d'appréhender la phase de test dès les étapes de conception du CI. Dans ce contexte, la conception testable plus connue sous l'appellation DFT vise à améliorer la testabilité des CI.
Plusieurs problèmes d'optimisation et d'aide à la décision découlent de la micro-électronique. La plupart de ces travaux traitent des problèmes d'optimisation combinatoire pour le placement et routage des circuits. Nos travaux de recherche sont à un niveau de conception plus amont, la DFT en présynthèse au niveau transfert de
registres ou RTL (Register Transfer Level).
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mise à jour le 23 décembre 2010

Grenoble INP Institut d'ingénierie Univ. Grenoble Alpes